在干涉儀實驗中，為了更好地熟悉西格瑪光機干涉儀的特性，可以進行幾個簡單的實驗。這些實驗不需要使用特殊的工具，但能提供一些教科書或計算公式難以得到的經(jīng)驗。

1.干涉條紋的控制

通過調(diào)整反射鏡的方位和俯仰，可以改變干涉條紋的方向。進一步調(diào)整反射鏡，可以擴大條紋的間隔，使其整體成為一個均一亮度的光斑。當兩個光束平行時，即干涉條紋數(shù)量為零時，表示兩束光完全平行。

2.相位差

在兩個光束平行（0個干涉條紋）時，輕輕觸摸（推）某個反射鏡，光斑的亮度會劇烈變化。光斑最亮時，說明兩路光束的相位一致；最暗的位置表示其相位差為半個波長。每推動反射鏡移動半個波長的距離，明暗交替出現(xiàn)一次。

3.空氣擾動

小心地把手伸到干涉儀的某一光路下方，可以觀測到干涉條紋的波動。這是因為手掌溫度導(dǎo)致空氣被加熱，引起空氣折射率的變化。手掌離光路越近，干涉條紋的擾動也越大。

4.反射鏡變形

稍微擰緊固定干涉儀的反射鏡的緊定螺釘，可以觀測到干涉條紋的變化。這個動作會導(dǎo)致反射鏡內(nèi)部應(yīng)力變化，引起鏡面精度的變化。通過干涉條紋的變化，可觀測到通常無法直接感知的微小變形。

這些實驗方法可以幫助我們更好地理解干涉現(xiàn)象，并且通過實際操作獲得一些直觀的經(jīng)驗，這是理論學習難以提供的。

上海芬創(chuàng)信息科技有限公司2004年成立至今，作為專業(yè)的光機電產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)提供商，芬創(chuàng)科技長期致力于將國際上先進的通用干涉儀及研究方法介紹引進到中國；專注為中國的光學電子/微電子/激光應(yīng)用/生物/醫(yī)藥/物理、光學研究機構(gòu)/計量檢測機構(gòu)/機械加工用戶提供高品質(zhì)的通用干涉儀產(chǎn)品和技術(shù)服務(wù)。